X光吸收光谱

X光吸收光谱（X-ray absorption spectroscopy，XAS）是目前广泛应用于取得气态、分子及凝体中，目标原子之区域（原子尺度）结构资讯及电子状态的一种技术。

X光吸收光谱可借由调变X光光子能量，于目标原子束缚电子之激发能量范围内进行扫瞄而得。通常需使用同步辐射设施以提供高强度并可调变波长之X光光束。

与X光吸收光谱相关的技术，有称之为X光吸收细微结构（X-ray Absorption Fine Structure, XAFS），或延伸X光吸收细微结构（Extended X-ray Absorption Fine Structure, EXAFS）。另外，X光吸数光谱区段在接近目标原子之壳层电子激发处，目标原子之壳层电子吸收光子，会有一陡直的上升，常称之为X光吸收近边缘结构（X-ray Absorption Near-Edge Structures，XANES）或X光吸收近边缘结构（Near-Edge X-ray Absorption Fine Structure，NEXAFS）。