磁力显微术

磁力显微术的概念

磁力显微术是指利用磁性探针与样品间的磁交互作用去取得表面磁化结构的一种扫描探针显微术 (scanning probe microscopy, SPM)，在 1987 年时， Martin 及

Wickramasinghe 首先利用原子力显微术 (atomic force microscopy, AFM) 的非接触式操作模式，将一根经过化学腐蚀的铁针磁化过后弯曲作为磁性探针，然后在薄膜磁头上观察到第一个 MFM 影像，不过 Martin 两人所得到的只有磁力影像，而无法得到表面结构，并且探针制备较为繁复，经过这十余年来发展，这些缺点已被克服。一个磁性样品，其除了表面磁化结构也有表面几何结构，将AFM 的探针镀上磁性薄膜，然后利用轻敲式的操作模式得到样品表面的型态影像，在取得某点的高度之后，将探针拉高到一固定距离，然后在量测探针振频或相位等变化，得到磁力影像。[1]