剖面采样

剖面采样（profile sampling）是沿垂直地质体走向的方向进行的系统采样。在地球化学普查或详查任务中，为了详细了解某一地层、侵入岩体、岩体与地层接触带、不同方位的构造带、蚀变带或矿带等地质体的地质和地球化学特征，常常沿着垂直这些地质体走向的方向进行剖面采样。对于岩石剖面，应选择在露头出露齐全的地段，尽量采集较为新鲜的岩石；避免岩性差异很大的介质混合采集；采样过程中应对剖面及其两侧的地质地球化学现象进行细致的观察与描述。对于土壤剖面应选择在残积物连续分布的地段，注意采集基本同一层位的介质，排除运积物的混入。剖面的长短和点位间距由任务要求来决定。[1]