物化探剖面测量

王朝百科·作者佚名  2010-08-12  
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物化探剖面测量(profile survey of geophysical and geochemical prospecting)是为了解物化探异常特性或研究已发现的物化探异常,进行定性或定量的推断和解释而进行的勘探剖面测量工作。主要的勘探剖面有:①物化探典型剖面,是为了了解物化探异常特性,以定性解释为主或以概略定量推断解释为目的而布置的勘探剖面;②物化探精测剖面,是为了详细研究已发现的物化探异常而进行定量推断解释或为确定物化探工程位置而布设的勘探剖面。[1]

 
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