低维半导体复合结构的光学性质

图书信息

书 名: 低维半导体复合结构的光学性质

作者：金华

出版社：吉林大学出版社

出版时间： 2009年06月

ISBN: 9787560144634

开本： 16开

定价: 20.00 元

内容简介《低维半导体复合结构的光学性质(低维半导体物理和超快光谱技术研究参考必备手册)》介绍了Ⅱ-Ⅵ族低维半导体复合结构中的载流子动力学过程及其光学性质，并对Ⅱ-Ⅵ族低维量子体系中材料的表征、稳态和瞬态光谱测量技术、物理特性和应用方面进行较为系统地介绍。主要内容包括低维半导体的基本性质，低维结构中的光学测量方法，znTe基复合量子阱中的载流子行为和znse基量子阱／量子点复合结构中的激子行为。

《低维半导体复合结构的光学性质(低维半导体物理和超快光谱技术研究参考必备手册)》可供从事低维半导体物理和超快光谱技术研究的科技人员和相关领域的师生参考。

作者简介金华，女，1978年11月3日出生，籍贯吉林省长春市。1996—2000年在吉林大学电子工程系电子材料与器件专业攻读学士学位。2000—2005年在中国科学院长春光学精密机械与物理研究所凝聚态物理专业攻读博士学位，指导教师为申德振研究员。读博期间参与的课题和取得的成果如下： 作为主要成员参加了“十一·五”国家科技支撑计划，公安部应用创新计划，中科院知识创新项目。同时还参加了863计划项目，国家自然科学基金和中科院百人计划的研究工作。

图书目录第一章 绪论

第二章 低维半导体的基本性质及发展概况

第三章 低维结构中的光学测量方法

第四章 ZnTe基和znSe基低维复合结构中的载流子动力学过程

第五章 ZnCdSe/ZnSe/CdSe量子阱/量子点复合结构中的激子复合

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