最新集成电路测试技术
图书信息
书 名: 最新集成电路测试技术
作者：高成 王香芬
出版社：国防工业出版社
出版时间： 2009年02月
ISBN: 9787118060713
开本： 16开
定价: 35.00 元
内容简介《最新集成电路测试技术》系统介绍了常用集成电路测试的原理、方法和技术，范围涵盖了数字集成电路、模拟集成电路、SOC器件、数字/模拟混合集成电路、电源模块、集成电路测试系统、测试接口板设计等方面。主要为从事IC测试相关人员全面掌握各类集成电路的测试技术打下良好基础。
《最新集成电路测试技术》首先介绍了集成电路测试的基本概念和理论，包括集成电路测试的基本原理、测试的分类、测试的作用等，然后分别对数字集成电路、存储器、各类模拟集成电路、数字/模拟混合电路、SOC、DC-DC模块的测试方法和技术进行了深入细致的介绍，在此基础上对IDDQ测试技术以及IC设计到测试的瓶颈和融合问题进行了详细阐述，并以当前主流大规模集成电路测试系统Sapphire为例，详细介绍了现代集成电路测试系统(ATE)的软、硬件架构和特点，最后在DIB测试接口板设计技术中深入论述了ATE测试的重要环节负载板(DIB)的设计技术问题。
《最新集成电路测试技术》可作为从事集成电路设计、测试、应用和集成电路测试设备开发的研究人员、技术人员以及计划进入集成电路测试领域的相关人员的学习或培训教材，也可作为高等院校相关专业本科或研究生的教学参考书。
图书目录第1章 集成电路测试概述
第2章 数字集成电路测试技术
第3章 半导体存储器测试技术
第4章 模拟集成电路测试技术
第5章 数模混合集成电路测试技术
第6章 DSP在混合电路测试中的应用
第7章 SOC测试技术
第8章 IVDQ测试
第9章 DC—DC参数测试方法
第10章 集成电路测试系统
第11章 设计到测试的链接
第12章 测试接口板DIB设计技术
参考文献
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