集成电路测试技术基础

图书信息

书 名: 集成电路测试技术基础

作者：姜岩峰 杨兵

出版社：化学工业出版社

出版时间： 2008年09月

ISBN: 9787122029485

开本： 16开

定价: 26.00 元

内容简介《集成电路测试技术基础》包括数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术三大部分内容，主要介绍逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、内嵌自测试的原理和方法、模拟集成电路测试技术、混合信号测试技术。另外，《集成电路测试技术基础》配有一张DVD演示光盘，主要介绍的是混合信号集成电路的测试原理和方法，包括混合信号测试系统的硬件组成、硬件连接及操作、LabVIEW软件的使用等，与图书文字内容相辅相成，以助于深化理解测试的概念。

《集成电路测试技术基础》适用于集成电路测试领域的技术人员阅读，也可作为微电子专业本科生和研究生的教材。

图书目录第1章数字集成电路中常见的故障

第2章组合逻辑电路的测试方法

第3章可测试性逻辑电路的设计

第4章时序电路的测试方法

第5章时序电路可测试性设计

第6章内嵌自测试

第7章模拟电路的测试

第8章混合信号测试

第9章混合信号测试应用简介

参考文献

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