集成电路测试技术基础
图书信息
书 名: 集成电路测试技术基础
作者：姜岩峰 杨兵
出版社：化学工业出版社
出版时间： 2008年09月
ISBN: 9787122029485
开本： 16开
定价: 26.00 元
内容简介《集成电路测试技术基础》包括数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术三大部分内容，主要介绍逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、内嵌自测试的原理和方法、模拟集成电路测试技术、混合信号测试技术。另外，《集成电路测试技术基础》配有一张DVD演示光盘，主要介绍的是混合信号集成电路的测试原理和方法，包括混合信号测试系统的硬件组成、硬件连接及操作、LabVIEW软件的使用等，与图书文字内容相辅相成，以助于深化理解测试的概念。
《集成电路测试技术基础》适用于集成电路测试领域的技术人员阅读，也可作为微电子专业本科生和研究生的教材。
图书目录第1章数字集成电路中常见的故障
第2章组合逻辑电路的测试方法
第3章可测试性逻辑电路的设计
第4章时序电路的测试方法
第5章时序电路可测试性设计
第6章内嵌自测试
第7章模拟电路的测试
第8章混合信号测试
第9章混合信号测试应用简介
参考文献
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