半导体薄膜光谱学
图书信息
书 名: 半导体薄膜光谱学
作者：薛晨阳
出版社：科学出版社
出版时间： 2008年04月
ISBN: 9787030223524
开本： 16开
定价: 42.00 元
内容简介《半导体薄膜光谱学》内容简介：光谱技术是研究半导体薄膜材料表面特性、界面特性与成膜质量的重要工具。《半导体薄膜光谱学》主要介绍了半导体薄膜光谱学的理论基础和实验基础知识，从实验原理、实验装置、实验结果分析等方面详细介绍了拉曼光谱，光致发光和光调制反射几种实验方法，并结合一系列实验结果，具体分析了CuGase：薄膜的结构特性与光学特性。使读者能够全面、系统地了解半导体薄膜光谱技术的测试方法和分析方法。《半导体薄膜光谱学》内容新颖，深入浅出，有助于高年级本科生、研究生和科研人员在半导体薄膜光谱学学习研究中掌握基本原理和方法。《半导体薄膜光谱学》可作为教学和科研的参考书。
图书目录前言
第1章 半导体薄膜及其生长方法
第2章 电磁辐射理论
第3章 光谱学主要仪器
第4章 光学表征方法
第5章 CuGase2薄膜结构中的光学特性研究
第6章 拉曼光谱的扩展应用
参考文献
附录1 基本物理常量和单位换算表
附录2 专有名词英汉对照
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