国家专用集成电路设计工程技术研究中心
工程中心-依托国家专用集成电路设计工程技术研究中心[1]（简称NECFAD）是依托：中国科学院自动化研究所。
工程中心-领域国家专用集成电路设计工程技术研究中心主要的工作领域是IC分析与设计方法论的工程学术研究和先进的集成电路分析系统的工程开发。同时，承担商业性的集成电路设计和分析工程项目。
集成电路分析技术及服务：提供芯片电路原理图和版图以及相关分析数据；
芯片工艺分析技术及服务：提供芯片工艺分析报告；
芯片成像技术及服务：样片的数字化采样以及拼接对准；
嵌入式软件分析技术及服务：读取芯片内部的mask形式软件代码；
IC化性及故障分析，包括：去胶、层次剥离、拍照；
IC电性量测，包括：ESD、EMMI、Latch up、DC电性量测；
FIB服务：IC电路修改，内部电路迅号量测、结构分析；
Reliability服务，包括：BLT、PCT、TCT、TST、MST等可靠性测试。
PCB Layout、Probe card、Tester、Foundry Service。
工程中心-属性国家专用集成电路设计工程技术研究中心国家级ASIC分析和设计基地，组建于1992年，1995年成为首批授牌的国家工程技术研究中心之一。她的前身是中科院自动化所集成电路智能分析实验室。主要从事集成电路分析技术及专用EDA软件开发，在集成电路分析方面居国内领先地位。
工程中心-成果国家专用集成电路设计工程技术研究中心1985年开始从事集成电路分析技术研究；1986年开发了集成电路版图自动识别系统ICRES 1.0，并获得中国科学院科技进步一等奖；1990年研制开发了集成电路分析系统ICRES 2.0并于1992年获得中国科学院科技步一等奖和1993年获得国家科技进步二等奖；2002年研制成功了集成电路分析系统ICRES 3.0；2005年研制成功了集成电路分析系统ICRES 3.5；应用ICRES 3.0及正向设计技术研发成功了某型军用DSP，并于2005年获得国防科学技术一等奖。