平均粒度仪
平均粒度仪
简介：
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师，至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂，把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪，在99年时增加了YXQ-100压力校正器升级为WLP-208平均粒度测定仪，后期转为丹东华宇仪器有限公司。
Fisher Sub-Sieve Sizer 仪器最早于1943年在美国fisher公司生产，直到2008年该美国fisher公司停止生产该仪器。目前国内市场生产的平均粒度仪主要是丹东华宇仪器有限公司的产品，主要型号有WLP-202、205、208、216等等，在07年丹东华宇仪器有限公司针对于国外用户需要又增加了WLP-205A平均粒度测定仪、WLP-208A平均粒度测定仪，这二款都扩大了测量范围。
应用范围：
由于是空气透过法，对于粉末有结团、结块的不存在分散的问题尤为适用。
广泛应用于磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。
仪器原理：
是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面，最后由U形压力计及流量阻力系数，而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。
技术指标：
测量范围：0.2-50微米、50-100微米
孔隙度范围：0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95
精度：±3%
重复性：±3%
电源：220V±22V
重量：18KG
外形尺寸：735×415×245mm3
其计算公式如下：
K—形状系数
ε—孔隙度
η—空气粘度
g—重力加速度
ΔΡ—气体压力
U—流速
L—粉末层厚度
仪器图片
WLP-208平均粒度测定仪
WLP-216平均粒度测定仪
针阀专利证书
声明：本公司生产的平均粒度仪，不会产生稳压管倒流。