晶体取向
概述晶体取向一般是指的共价晶体的方向性。即在某一特定方向上形成共价键。根据共价键的量子理论，共价键的强弱取决于电子云的交叠程度。由于非满壳层电子分布的非对称性，因而总是在电子云密度最大的方向成键。[1]
原理多晶金属材料经机械加工、热处理等工艺，往往使晶粒的某些晶向或晶面与材料加工方向趋于一致。这种晶体取向称为择优取向或织构，它引起Ｘ射线衍射花样发生变化，使得连续均匀的衍射环成不连续、强度加强的斑点或弧段，而另一些晶面的衍射线强度变小甚至消失。测定织构的方法有多种中，但Ｘ射线方法具有准确、全面等特点，所以成为研究织构最主要的方法。 在Ｘ射线衍射法中，一般用“极图”来表达织构。所谓极图就是将材料各个晶粒的某一{hkl}晶面的极点完全投影在同一个极射赤面投影的基圆上，这样一张极射赤面投影图称为{hkl}极图。测定极图可用照相法和衍射法两种。
测定法经冷拉、冷挤压的丝材、棒材，其大部分晶粒的[hkl]晶向都趋于与丝轴方向平等。因此丝织构的测定就是定出丝纤轴的指数[hkl]。由于丝材的横载面较小，所以常采用针孔照相法进行测定，用单色Ｘ射线从垂直于丝轴方向照到样品上，得到一张透射德拜相。将一系列德拜环进行指标化，根据衍射角及衍射环不均匀分布的情况，求出各环上加强斑点所对应的晶面法线与丝轴间的夹角。最后从晶体中晶面夹角的关系求得纤维轴的系数。