X射线单晶面探仪
X射线单晶面探仪 安放地点： 10号楼一层
主要用途： 测定物质分子在低温或室温下的晶体结构和分子结构，确定物质分子中原子在空间的位置和排列，了解原子或分子间的相互作用。 对从分子结构出发设计分子器件，探索功能材料与结构的关系，新型催化剂的催化机理，纳米材料性能的解释具有指导作用。
仪器类别： 0303050202 /仪器仪表 /成份分析仪器 /四圆单晶X射线衍射仪
指标信息： 额定功能：18KW 额定电压：20KV～60KV 最大额定电流：300mA IP检出面积：466×256mm 像素尺寸：100×100μm 测角范围：2θ=-60°～144°
附件信息： 低温附件最低温度-180℃，温度精度±0.5，不用液氮，在X，Y，Z方向上调整喷气位置，并配有国际晶体学会晶体结构数据库（英国剑桥）