膜厚测试仪
关于X射线衍射装置（XRD）和萤光X射线装置（XRF）
简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光Ｘ射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。
关于萤光X射线装置（XRF）
X射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出：
膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故目前市场上最普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。
在此技术方面广大业界一致认同日本精工膜厚测量仪比较领先，因其为全世界第一台膜厚测量仪的生产商。
具体介绍为：进口日本精工（SFT9100M）X-RAY荧光无损金属薄膜电镀层厚度测量仪
SFT9100M是精工膜厚仪系列中经济实用又功能齐全的机型
用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费
技术参数：
可测元素：Ti～U
X射线管：管电压45KV，管电流1mA
检测器：比例计数管
样品观察：CCD摄像机
对焦方式：激光自动对焦
测定软件：薄膜FP法、检量线法
准直器：2个（0.1mm，0.025*0.3mm）
安全机能：测量室门自锁功能
Z轴防冲撞功能
仪器自诊断功能
主要特点
★ 自动对焦功能 。配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。
★ 具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量
★ 采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防
止在对焦时造成的损坏。
★ 选用Mo靶材X射线管，测量贵金属更灵敏。
★ 支持多种语言的软件系统。简体中文、繁体中文、英语、日语、韩语
★ 搭载样品尺寸的兼容性
可适用于各种样品，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品，从较厚
的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等
★ 卤素灯照明
★ 即时生成测量报告的便捷性 。运用搭载的Microsoft Word? Excel? 可以简单轻松得到制作报告
★ 多种修正功能。基材修正、已知样品修正、人工输入修正
★ 搭载了电动Ｘ－Ｙ移动平台
进口日本精工（SFT9200）X-RAY荧光无损金属薄膜电镀层厚度测量仪
SFT9200是精工膜厚仪系列中普及型
用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费
「SFT9200系列」继承了拥有了20多年历史及光辉业绩的「SFT系列」(操作性与可靠性共存)的优点，并不断地发展，成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型]。
产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪
产品型号：SFT9200、SFT9250、SFT9255
技术参数：
仪器的特长：广泛应用型
可测元素：Ti～U
X射线管：小型空气冷却型高功率X射线管球(W靶)管电压：45kV 管电流：1mA Be窗
滤波器：
一次滤波器：A1-自动切换
二次滤波器：Co-自动切换
检测器：比例计数管
样品观察：CCD摄像机
对焦方式：激光自动对焦
测定软件：薄膜FP法、检量线法
5个准直器可自动切换
型(Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm)
型(0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm)
安全机能：测量室门自锁功能
Z轴防冲撞功能
仪器自诊断功能
仪器介绍：
SFT系列中标准型仪器
滤波器
另有SFT9250、SFT9255两种机型
标准配备有Windows2000中文操作界面
采用检量线法和FP法，测量数据与Word和Excel链接
自动生成报告和数据处理
5个准直器可自动切换
工作台3维电动，可编程进行自动测量
采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器
可防止在对焦时造成仪器的损坏。
产品特点：
能够测量无铅焊锡
配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份
搭载中心搜索软件
通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。
拥有防冲功能
搭载激光对焦系统
搭载测试报告自动生成软件
拥有自动测量软件以及中心搜索软件
搭载了薄膜FP法软件
X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m （1μm）左右,X射线比其短为0.000000000001 m至0.00000001 m (0.01- 100 Å)左右。
对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。
（１） 萤光X射线
（２） 散乱X射线
（３） 透过X射线
SII的产品是利用萤光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的萤光X射线法原理。和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。
简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光Ｘ射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。