端末效应

英文名称End Effect

定义适当增加长径比聚醋熔体在进入喷丝孔喇叭口时，由于空间变小，熔体流速增大所损失的能量以弹性能贮存于体系之中，这种特征称为“入口效应”也称"端末效应"。

危害端末效应会导致制件的变形、弯曲、尺寸不稳定，甚至因应力集中或过大而产生开裂。其中经大截面进入小截面时在变截面入口产生收敛性流动，使熔体产生弹性变形，并固化吸收能量引起压力下降，而且还可能会使熔体在一定长度(失稳流长)的小截面内发生湍流。