多晶衍射法 diffraction method for polycrystalline
利用晶体对X射线的衍射效应，获得多晶样品的X射线衍射图的方法。该法给出一套基本数据——d-I 值 (衍射面间距和衍射强度)。根据这些数据可进行物相分析、计算晶胞参数、确定空间点阵型式以及测定简单金属和化合物的晶体结构。样品通常为块状或粉末状，若是后者，又称为X射线粉末法。